SPE2007 - IR

Abstract

Diversos estudos têm mostrado que podemos melhorar o desempenho estatístico de uma carta de controlo alterando os seus parâmetros durante o processo produtivo. Por um lado, foram propostas cartas cujos parâmetros fixos são obtidos no início do controlo do processo não permanecendo constantes, as quais são usualmente designadas por cartas com parâmetros predefinidos. Por outro lado, foram propostas cartas em que pelo menos um dos seus parâmetros varia em função dos valores da estatística amostral, as quais são designadas por cartas adaptativas. Neste contexto, diversos esquemas de amostragem foram apresentados e estudados. Neste trabalho, apresenta-se um novo método no qual os instantes de amostragem são calendarizados no início do controlo do processo de amostragem, de acordo com a distribuição do tempo de vida do sistema, sendo as amostras retiradas usando o método de amostragem dupla. Este método combinado de amostragem é estudado, para sistemas com diferentes tipos de taxas de risco, considerando uma carta de controlo para a média do tipo Shewhart. Os resultados obtidos são analisados de uma forma critica e o desempenho estatístico é comparado com o de outros esquemas de amostragem anteriormente apresentados na literatura, em termos do período médio de mau funcionamento e do número médio de itens inspeccionados. Em geral, podemos concluir que este método é mais eficaz do que os outros esquemas de amostragem considerados, com diferenças que são em alguns casos muito acentuadas, em especial para sistemas com taxa de risco crescente.